仪器名称：场发射透射电镜（TEM）
型号：
Tecnai G2 F30/F20
JEOL-2100F
FIB+球差校正电镜
检测项目：
形貌观察（磁性、非磁样品、生物样均可）
选区电子衍射（环衍射、点衍射）
高分辨像（磁性、非磁样品、生物样均可）
EDS能谱（点扫、线扫、面扫）
明场、暗场
Mapping
球差电镜
应用范围：
可以对各种材料的物质内部微结构进行观察，电子衍射分析及高分辨电子显微术研究，材料粒径统计，晶体结构及晶体性能进行研究，配合能谱仪可以对各种元素进行定性、及半定量的微区分析，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。
制样要求：
块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度为200nm以下;
粉末和液体样品，要求样品能够均匀分散在支持膜上并且干燥，粉末样>0.01g,液体样>5ml;
生物样可做超薄冷冻切片制；
金属样、陶瓷样、块状样可以FIB制样；
离子减薄需要样品机械磨样到100um。
有3D-TEM、EELS、STEM、超薄冷冻切片、FIB、锇酸熏染制样等需求可进一步咨询。
