仪器名称：原子力显微镜（AFM）
型号：日本精工SPA400 布鲁克Dimension Edge
检测项目：高度图、相图、表面粗糙度、三维立体图、其他
设备性能：
AFM分辨率：横向分辨率：0.2 nm（XY方向）
扫描范围：XYZ
标准扫描器：30 μm×30 μm×5 μm
深域扫描器：55 μm×55 μm×13 μm
狭域扫描器：2.5 μm×2.5 μm×0.3 μm
扫描器控制精度：XY轴控制：16位精度；Z轴控制：26位精度
Z轴趋近方式：自动趋近
Z轴最大可趋近范围：10 mm
最大样品尺寸：φ24 mm×8 mm
温度控制范围：室温至300 ℃
应用范围：
广泛地应用于表面分析的各个领域,通过对表面形貌的分析、归纳、总结,以获得更深层次的信息。它可以用于研究金属、半导体和非金属类材料的表面形貌、表面重构、摩擦力，获得相界、分形结构和横向力等信息的空间三维图像。
制样要求：
粉末样10mg，块状、薄膜样品最大1×1cm，厚度最厚0.5cm，液体样品5ml
样品上下表面整洁，没有油渍灰尘等污染物
仪器最大扫描范围15×15×3um
若是纳米颗粒样品，先用一定的分散剂超声分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后测试。若没有云母片，请在测试前到本实验室来取。
如果样品表面有无机盐，先用水等清除盐分后来测试，因为盐分结晶影响形貌的扫描。
如果是要测试薄膜厚度，预先把薄膜和基底作出一个边界清楚的台阶。
